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X射线荧光光谱仪(XRF)

发布时间:2024-05-27

X射线荧光光谱仪(XRF

仪器编号:DY3627

仪器型号:Zetium

购置日期:2022-05

购置厂家:上海思百吉(Spectris)仪器系统有限公司

产地:Almelo, The Netherlands

仪器负责人:汪小妹

联系方式:xiaomei_wang@cug.edu.cn


技术指标:

a.分析元素范围:O8)到U92)的定性、半定量、定量分析;

b.测量浓度范围:1μg/g-100%

c.照射方式:上、下两种照射均可,上照射优于下照射;

dX射线光管:铑靶,管窗厚度75μm;光管最大功率4kW,最大电压60kV,最大电流140-160mA

e.高压发生器:最大输出功率4KW,最大电压60KV,最大电流160mA

f.测角仪:θ/2θ独立驱动,带光学编码器,无机械磨损。定位精度±0.0001°,定位准确性±0.0003°

g.固态高频发生器:外电源波动1%,输出电压稳定性达到0.00006%

h.探测器类型:流气式和闪烁式探测器,流气式探测器最大计数≥3000kCPS,闪烁式探测器最大计数≥1500kCPS

i.晶体:LiF200LiF220PX-1Ge111PE002

j.准直器:4种规格,150μm300μm750μm


工作原理

X射线荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。其工作原理是X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),再由探测器对X荧光进行检测。对熔片经激发后的二次X射线与使用标样所建立的样品曲线进行对比,计算出SiO2TiO2Al2O3Fe2O3MnOMgOCaONa2OK2OP2O5等氧化物及烧失量(LOI)的含量,具有分析速度快、非破坏性、分析元素范围广、分析含量范围广、分析精度高、制样方法简单、样品形态不受约束等优点。


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